Расчет и построение в плоскости параметров настроек кривой равного значения

Степень колебательности m=m зад =0.350

Рисунок 10. Кривая m=mзад для ПИ-регулятора

Таблица 10. Параметры настройки ПИ-регулятора

Рисунок 11. Кривая m=mзад для ПИД-регулятора α=0.15

Таблица 11. Параметры настройки для ПИД-регулятора α=0.15

Рисунок 12. Кривая m=mзад для ПИД-регулятора α=0.6

Таблица 12. Параметры настройки для ПИД-регулятора α=0.6

Рисунок 13. Кривая m=mзад для ПИД-регулятора α=0.4

Таблица 12. Параметры настройки для ПИД-регулятора α=0.4

Рисунок 14. Совмещенные кривые для ПИ-регулятора

Рисунок 15. Совмещенные кривые для ПИД-регулятора α=0.15

Рисунок 16. Совмещенные кривые для ПИД-регулятора α=0.4

Рисунок 17. Совмещенные кривые для ПИД-регулятора α=0.6

Другие стьтьи в тему

Разработка шлирен–проектора для контроля объективов
Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды. Для получения измерительной информации об объекте контроля использ ...

Разработка кабельной системы
Структурированная кабельная система (СКС), по мнению большинства специалистов по информационным технологиям, является в настоящее время неотъемлемой частью любого современного общественного здания, а ее отсутствие, рассматриваемое управленческим и техническим персоналом как анахрониз ...