Расчет надежности

Интенсивность отказов l характеризуется отношением числа отказавших изделий в единицу времени к числу изделий, продолжающих оставаться исправными к началу рассматриваемого промежутка времени:

(5.5)

где m - число изделий, отказавшихся за время t;- число изделий к началу промежутка времени.

Если предложить, что отказы различных элементов взаимно независимы, и каждый отказ носит катастрофический характер, т.е. полностью нарушает работоспособность, то интенсивность отказов устройства сумме интенсивностей отказов элементов составляющих устройство.

(5.6)

где li - интенсивность отказов элементов i - го типа;

Сi - количество элементов i -го типа, входящих в устройство.

Наработка на отказ равна:

(5.7)

Интенсивность отказов следующая:

Микросхемы 1200Й серии: 0,85 ×10-6 (1/ч);

Резисторы: 0,9 ×10-6 (1/ч);

Тогда,

l = (17××0,85+2×0,9) ×10-6 = 8,25 ×10-6 (1/ч),

Т = 1/16,25 ×10-6 = 0,062 ×10-6 = 4,2 ×10-4 (ч).

Вероятность безотказной работы определим по формуле:

P=e-λt (5.8)

P=2,72-4,2×0,0008×100 = 0,5

Allbest.ru

Другие стьтьи в тему

Разработка устройства управления на базе микроконтроллера AVR семейства Classic фирмы Atmel
Микропроцессором (МП) называют построенное на одной или нескольких БИС/СБИС программно-управляемое устройство, осуществляющее процесс обработки информации и управление им. МП - центральный процессорный элемент микропроцессорной системы, в которую также входят память и устройства вв ...

Разработка измерительного преобразователя
Современная экономика характеризуется широкой интеграцией передовых технологий, в том числе и в области промышленной электроники. Мировая тенденция - тесное сотрудничество разработчиков элементной базы, электронных систем и аппаратуры, т. е. объединение научно-технических потенциал ...