Разработка шлирен–проектора для контроля объективов

Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды.

Для получения измерительной информации об объекте контроля используют изменение параметров, описывающих световое излучение при его взаимодействии с объектом контроля. Это следующие параметры: пространственно - временное распределение амплитуды, изменение частоты, фазы, поляризации и степени когерентности оптического излучения. Изменение этих параметров при взаимодействии с объектами контроля происходит в соответствии с явлениями интерференции, дифракции, отражения, преломления, поглощения, рассеяния, дисперсии света, а также при изменении параметров самого объекта контроля в результате нелинейных явлений фотопроводимости, люминесценции, фотохроизма, электрооптических, механооптических, магнитооптических, акустооптических и других эффектов.

Другие стьтьи в тему

Разработка микропроцессорной системы управления РТК на базе вертикально–фрезерного станка 6Р13Ф3-37
Автоматизация технологических процессов является одним из эффективных путей повышения производительности труда на предприятии. Автоматизация осуществляется посредством автоматизированных роботизированных технологических комплексов (РТК). Роботизированный технологический компле ...

Разработка электронного устройства
Разработка структурной схемы ...

Разделы

Радиоэлектроника и телекоммуникации © 2021 : www.techelements.ru