Разработка шлирен–проектора для контроля объективов

Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды.

Для получения измерительной информации об объекте контроля используют изменение параметров, описывающих световое излучение при его взаимодействии с объектом контроля. Это следующие параметры: пространственно - временное распределение амплитуды, изменение частоты, фазы, поляризации и степени когерентности оптического излучения. Изменение этих параметров при взаимодействии с объектами контроля происходит в соответствии с явлениями интерференции, дифракции, отражения, преломления, поглощения, рассеяния, дисперсии света, а также при изменении параметров самого объекта контроля в результате нелинейных явлений фотопроводимости, люминесценции, фотохроизма, электрооптических, механооптических, магнитооптических, акустооптических и других эффектов.

Другие стьтьи в тему

Расчет дальности действия радиолокационной станции в различных условиях помеховой обстановки
Параметры РЛС № вар Тип сигнала кВт град градD 4 КФМ 200 30 5 180 ...

Разработка газолазерной головки для резки полимерных композиционных материалов
Полимерные композиционные материалы: основные типы Композиционные материалы (композиты) [1] - многокомпонентные материалы, состоящие, как правило, из пластичной основы (матрицы), армированной наполнителями, обладающими высокой прочностью, жесткостью и т.д. Сочетание разнородных в ...

Разделы

Радиоэлектроника и телекоммуникации © 2020 : www.techelements.ru