Разработка шлирен–проектора для контроля объективов

Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды.

Для получения измерительной информации об объекте контроля используют изменение параметров, описывающих световое излучение при его взаимодействии с объектом контроля. Это следующие параметры: пространственно - временное распределение амплитуды, изменение частоты, фазы, поляризации и степени когерентности оптического излучения. Изменение этих параметров при взаимодействии с объектами контроля происходит в соответствии с явлениями интерференции, дифракции, отражения, преломления, поглощения, рассеяния, дисперсии света, а также при изменении параметров самого объекта контроля в результате нелинейных явлений фотопроводимости, люминесценции, фотохроизма, электрооптических, механооптических, магнитооптических, акустооптических и других эффектов.

• Анализ исходных данных и характеристик объекта контроля
• Анализ современного состояния вопроса проектирования
• Разработка оптико-механической системы
• Расчет освещенности в области экрана

Другие стьтьи в тему

Расчет и моделирование усилительного каскада на биполярном транзисторе
Цель работы: расчёт и компьютерное моделирование усилителя на примере усилительного каскада на биполярном транзисторе в схеме включения с общим эмиттером, получение навыков в выборе параметров, соответствующих максимальному использованию транзистора, а также приобретение навыков комп ...

Разработка устройства управления на базе микроконтроллера AVR семейства Classic фирмы Atmel
Микропроцессором (МП) называют построенное на одной или нескольких БИС/СБИС программно-управляемое устройство, осуществляющее процесс обработки информации и управление им. МП - центральный процессорный элемент микропроцессорной системы, в которую также входят память и устройства вв ...