Разработка шлирен–проектора для контроля объективов

Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды.

Для получения измерительной информации об объекте контроля используют изменение параметров, описывающих световое излучение при его взаимодействии с объектом контроля. Это следующие параметры: пространственно - временное распределение амплитуды, изменение частоты, фазы, поляризации и степени когерентности оптического излучения. Изменение этих параметров при взаимодействии с объектами контроля происходит в соответствии с явлениями интерференции, дифракции, отражения, преломления, поглощения, рассеяния, дисперсии света, а также при изменении параметров самого объекта контроля в результате нелинейных явлений фотопроводимости, люминесценции, фотохроизма, электрооптических, механооптических, магнитооптических, акустооптических и других эффектов.

• Анализ исходных данных и характеристик объекта контроля
• Анализ современного состояния вопроса проектирования
• Разработка оптико-механической системы
• Расчет освещенности в области экрана

Другие стьтьи в тему

Разработка структурной схемы местоопределения
1. Метод определения местоположения - угломерно-разностно-дальномерный. . Координаты приемных позиций по оси X :a , км=-25в , км=25 . Координаты приемных позиций по оси Y : Ya , км=0 . Пеленг из точки А на источник излучения : Θao=45 . ...

Разработка преобразователя разности фаз в постоянное напряжение
Разработка преобразователя разности фаз двух сигналов в постоянное напряжение со следующими параметрами: · Частота входных сигналов 10кГц - 100 кГц; · Входное напряжение 50мВ - 5В; · Диапазон измерения ∆φ 0 - 180о ...