Расчет и конструирование схемы параллельного регистра на триггере CLD - типа

Одним из основных достижений микроэлектроники является создание на основе фундаментальных и прикладных наук новой элементной базы - интегральных микросхем. Развитие вопросов проектирования и совершенствование технологии позволило в короткий срок создать высокоинтегрированные функциональные узлы, например в виде больших (БИС), сверхбольших (СБИС), ультрабольших (УБИС) микросхем и программируемых устройств - микропроцессоров. Интегральные изделия имеют малые габариты, экономное потребление энергоресурсов, низкую стоимость и высокую надежность, что позволило развить электронику в интегральную и функциональную микроэлектронику, далее в нано электронику. Это в свою очередь создает базу интенсивного развития современного общества во всех сферах (медицина, информатика, автоматизация техпроцессов и др.).

Курсовой проект по дисциплине "Проектирование микросхем и микропроцессоров" выполняется с целью закрепления приобретенных при изучении курса знаний и получения практических навыков конструирования интегральных микросхем (ИМС). Осуществляется практика анализа электрических схем с целью выявления возможностей миниатюризации и выполнения рассматриваемого узла как единого функционального узла с учетом реальных конструкторско-технологических ограничений и требований. Приобретаются навыки в расчетах полупроводниковых активных и пассивных элементов, пленочных пассивных элементов, выбора активных навесных компонентов, общей компоновки узла и оформления конструкторско-технологической документации.

регистр триггер интегральная микросхема

Другие стьтьи в тему

Разработка регулятора для системы автоматического управления
Управление каким-либо объектом - это процесс воздействия на него с целью обеспечения требуемого течения процессов в объекте или требуемого изменения его состояния. Основой управления является переработка информации о состоянии объекта в соответствии с целью управления. Объект упр ...

Разработка шлирен–проектора для контроля объективов
Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды. Для получения измерительной информации об объекте контроля использ ...

Разделы

Радиоэлектроника и телекоммуникации © 2022 : www.techelements.ru