Расчет комбинированной системы автоматического регулирования

настройка регулятор цифровой автоматический

Рассмотрим случай когда выход компенсатора подключен ко входу объекта.

Для того, чтобы перейти от данной передаточной функции к передаточной функции вида

необходимо найти k и T. Для этого строим годограф.

[a,b]=pade(7,2)=tf(a,b)

[c,d]=pade(3,2)=tf(c,d)

Wov1=tf([2],[1,2.6,1.8,1])=tf([1],[1,4,1])=z1*Wov1=z2*Wop1=Wov/Wop

nyquist(Wdk)

По годографу мы можем определить:

k=2, ω=0,35 рад/сек.

Чтобы найти Т необходимо решить уравнение:

Возьмем φ=-450.

Тогда

.

Значит, передаточная функция компенсатора имеет вид:

Построим переходные процессы.

wpi=tf([1.13,0.32],[1,0])

wraz=Wop*wpi=feedback(1,wraz)=Wov*wz(w12)

wdk1=tf([2],[2.85,1])=Wov-wdk1*Wop

step(W5)

W10=W5*wz(W10)

Схемы регулирования обладает следующими особенностями: наличием двух каналов воздействия на выходную координату объекта и использованием двух контуров регулирования - замкнутого (через регулятор) и разомкнутого (через компенсатор). Корректирующий импульс от компенсатора поступает на вход регулятора

2) Рассмотрим случай когда выход компенсатора подключен ко входу регулятора.

Для того, чтобы перейти от данной передаточной функции к передаточной функции вида

необходимо найти k и T. Для этого строим годограф.

Wdk=Wov/(Wop*wpi)

nyquist(Wdk)

По годографу мы можем сразу определить:

k/Т=1,96

ω=0,156 рад/сек.

Π/2-arctgTw= Π/2

,156 T=1

T=6,4

К=12,5

Значит, передаточная функция компенсатора имеет вид:

Построим переходные процессы.

wraz=Wop*wpi

wz=feedback(1,wraz)=Wov*wz

step(w12)

wdk1=tf([12.5, 0],[6.4,1])=Wov-wdk1*Wop*wpi=W5*wz(W10,100)

Другие стьтьи в тему

Радиоэлектроника и телекомуникации
Вторичная сеть общего пользования представляет собой совокупность автоматических телефонных станции (АТС), узлов автоматической коммутации (УАК), абонентских аппаратов и линий, а также каналов передачи, полученных из первичной сети. В этой вторичной сети существует иерархия, подобная ...

Разработка шлирен–проектора для контроля объективов
Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды. Для получения измерительной информации об объекте контроля использ ...