Расчет надежности системы

Кд.н - максимально допустимая нагрузка по мощности рассеяния;

Кs1 - отношение рабочего напряжения к максимально-допустимому по ТУ;

Кf - частота и мощность в импульсе СВЧ транзистора.

Конденсаторы:

Кс- величина емкости;

Кпс - величина последовательно включенного с оксидно-полупроводниковым конденсатором активного сопротивления.

Резисторы:

Кr - величина оммиченского сопротивления;

Км - величина номинальной мощности;

Кs1 - отношение рабочего напряжения к максимально допустимому по ТУ;

Ксл - количество элементов в схеме для резисторных микросхем;

Кстаб - точность изготовления (допуск);

Корп - вид корпуса резисторных микросхем;

Кис - степень освоенности технологий изготовления.

Коммутационные изделия:

Ккк - количество задействованных контактов;

Кf - количество коммутаций в час.

Соединители:

Ккк - количество задействованных контактов

Ккс - количество сочленений - расчленений в течении всего времени эксплуатации.

Расчетные значения lэ ЭРИ, находящихся на платах, сведены в таблицу 1. Исходные данные по составу микросборок разработки ОАО «СТАР», входящих в состав плат ПНВИ, УФИ и платы вывода БЗД-96-60, и их интенсивности отказов сведены в таблицу 2.

Другие стьтьи в тему

Разработка проекта сети доступа по технологии GPON микрорайона №5 г. Минусинска
Тенденция развития телекоммуникационной сети начала ХХI века должна отвечать времени, то есть быть высокоорганизованной, интеллектуальной, автоматизированной, соответствовать техническому уровню высокоразвитых стран мира, обеспечивать передачу разнообразных сообщений и предоставление ...

Разработка шлирен–проектора для контроля объективов
Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды. Для получения измерительной информации об объекте контроля использ ...